一、電容器的試驗(yàn)項(xiàng)目，應(yīng)包括下列內(nèi)容：
    1.測(cè)量絕緣電阻；
    2.測(cè)量耦合電容器、斷路器電容器的介質(zhì)損耗角正切值tanδ及電容值；
    3.耦合電容器的局部放電試驗(yàn)；
    4.并聯(lián)電容器交流耐壓試驗(yàn)； 
    5.沖擊合閘試驗(yàn)。
    二、測(cè)量耦合電容器、斷路器電容器的絕緣電阻應(yīng)在二極間進(jìn)行，并聯(lián)電容器應(yīng)在電極對(duì)外殼之間進(jìn)行，并采用1000V絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量小套管對(duì)地絕緣電阻
    三、測(cè)量耦合電容器、斷路器電容器的介質(zhì)損耗角正切值tanδ及電容值，應(yīng)符合下列規(guī)定：
    1.測(cè)得的介質(zhì)損耗角正切值tanδ應(yīng)符合產(chǎn)品技術(shù)條件的規(guī)定； 
    2.耦合電容器電容值的偏差應(yīng)在額定電容值的-5%～+10%范圍內(nèi)，電容器疊柱中任何兩單元的實(shí)測(cè)電容之比值與這兩單元的額定電壓之比值的倒數(shù)之差不應(yīng)大于5%；斷路器電容器電容值的偏差應(yīng)在額定電容值的±5%范圍內(nèi)。對(duì)電容器組，還應(yīng)測(cè)量各相、各臂及總的電容值。
    四、耦合電容器的局部放電試驗(yàn)，應(yīng)符合下列規(guī)定： 
    1.對(duì)500kV的耦合電容器，當(dāng)對(duì)其絕緣性能或密封有懷疑而又有試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，可進(jìn)行局部放電試驗(yàn)。多節(jié)組合的耦合電容器可分節(jié)試驗(yàn)； 
    2.局部放電試驗(yàn)的預(yù)加電壓值為0.8U_m×1.3U_m，停留時(shí)間大于10s；降至測(cè)量電壓值為1.1U_m/√3，維持1min后，測(cè)量局部放電量，放電量不宜大于10pC。
    五、并聯(lián)電容器的交流耐壓試驗(yàn)，應(yīng)符合下列規(guī)定：
    1.并聯(lián)電容器電極對(duì)外殼交流耐壓試驗(yàn)電壓值應(yīng)符合表1-1的規(guī)定； 
    2.當(dāng)產(chǎn)品出廠試驗(yàn)電壓值不符合表1-1的規(guī)定時(shí)，交接試驗(yàn)電壓應(yīng)按產(chǎn)品出廠試驗(yàn)電壓值的75%進(jìn)行。

注：斜線下的數(shù)據(jù)為外絕緣的干耐受電壓。 
    六、在電網(wǎng)額定電壓下，對(duì)電力電容器組的沖擊合閘試驗(yàn)，應(yīng)進(jìn)行3次，熔斷器不應(yīng)熔斷；電容器組中各相電容的最大值和最小值之比，不應(yīng)超過(guò)1.08。